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激光測量設備

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C、L波段可調諧激光器1527.605-1611.787nm
Laser-1000是一款連續波、單頻、C、L波段可調諧激激光器，可調范圍覆蓋整個C、L波段，功率可達16.5dbm，線寬可達100 kHz，調諧分辨率0.01 pm，C、L波段可調諧激光器是一款用途廣泛、成本效益高的通用儀器。C、L波段可調諧激光器1527.605-1611.787nm

型號：廠商性質：代理商
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CinCam Pico系列超小尺寸光束分析儀
超小尺寸光束分析儀-CinCam Pico系列由于其高的分辨率和小的像素尺寸，CinCam確保了在對連續和脈沖激光光束測量分析時的高準確度。其即插即用的設計保證了設備的易兼容性和操作的簡易型。此外Cincam光束分析儀通用的C/F-Mount接口設計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉換裝置、紅外轉換裝置更為方便。

型號：CinCam Pico系列廠商性質：代理商
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手持式膜厚測量儀
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有專為單層和雙層應用優化的數據分析算法。

型號：廠商性質：代理商
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MPROBE 70在線薄膜厚度實時測量儀系統
在線薄膜厚度實時測量儀系統-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統。在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量，專為產線的連續測量而設計

型號：MPROBE 70 廠商性質：代理商
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MPROBE 60薄膜厚度均勻度在線測量系統
薄膜厚度均勻度在線測量系統-MPROBE 60，MProbe 60 是一站式系統，專為研發中心和小型制造而設計。它結合了測量厚度/n&k 與自動化小點測量的能力。MProbe 60 已應用于研發納米技術中心。

型號：MPROBE 60 廠商性質：代理商
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集。

型號：MPROBE 50 INSITU 廠商性質：代理商
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MPROBE 40 MSP微小區域薄膜厚度測量儀
微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質：代理商
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寬帶飛秒光纖激光器-多色雙光子顯微專用
寬帶飛秒光纖激光器-多色雙光子顯微專用SCH提供了非常寬的光譜帶寬，在近紅外光譜中擴展到900-1200nm光譜。這與大多數綠色和紅移熒光標記的雙光子激發光譜重疊，包括eGFP、mRFP和dred。

型號：廠商性質：代理商
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寬帶飛秒光纖激光器
昊量光電新推出寬帶飛秒光纖激光器，其基于高功率1050nm飛秒光纖激光器結合LMA-PCF光子晶體光纖非線性轉換模組，飛秒光纖激光器將窄帶高峰功率脈沖轉換為波長為950 ~ 1200 nm的大功率寬帶輸出。

型號：廠商性質：代理商
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DISCO超連續譜激光器
DISCO超連續譜激光器是指當一束高強度的短脈沖通過非線性材料時，經過一系列非線性效應與線性色散的共同作用，使得出射光中產生許多新的頻率成分，從而使頻譜得到極大展寬的一種現象。超連續譜激光器（SupercontinuumSources）又稱超連續激光器、超連續光源、白光激光器。

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Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環，Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應用，如激光溫度和電流穩定。通過使積分和微分控制器具有獨立的增益設置，PID控制器也可以用作超前滯后補償器。

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Moku:Pro頻率響應分析儀
Moku:Pro頻率響應分析儀是測量被測系統頻率特性的儀器。早期頻率特性的測量是用信號源、電壓表、頻率計、相位計、示波器等單機組成，儀器操作復雜，易受干擾，測量精度低。

型號：廠商性質：代理商
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