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實驗室電子產品

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薄層方塊電阻測量儀-非接觸式
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式：昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜和金屬方塊電阻精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數據保存和導出。可用于方塊電阻，方阻測量，四探針測試，四探針方阻測量。

型號：廠商性質：代理商
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900-930nm光纖放大器
900-930nm光纖放大器產品特點：寬帶增益：30dB（900~930nm）；CW飽和輸出：200mW；PM光纖輸出：PER:100； Max脈沖能量：1μJ @100kHz；Max峰值功率：1kW@1ns-100kHz；關于脈沖放大的驗證數據；可變群速度延遲器（可選）

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光纖消噪器
光纖消噪器：Stable Laser System新研發出了一款用于激光遠距離傳輸的光纖消噪系統，這套系統的優勢在于可以將現有的實驗室解決方案合并到一個，例如您之前已經配置了一個超穩激光器，但是這個激光器不方便移動，那么就可以利用這套系統實現超穩激光遠距離穩定傳輸。這一解決方案大大節省了占地空間及不必要的經費開支。

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多通道程控電壓源/電流源
多通道程控電壓源/電流源專門面向需要進行大規模電子學控制的光集成芯片測控應用場景而推出,有效幫助減少了實驗室連線復雜、操作繁冗的困擾,大幅提高了大規模電子學控制的操作效率和便利性。電流源支持64通道電流輸出，蕞大精度滿足14bit；每路輸出都帶有電壓回讀功能?？捎糜谛枰嗦肪茈娫纯刂频母鞣N測控系統產品廣泛應用于硅基光芯片集成測試、射頻芯片、量子通信等領域。本公司也有多通道程控電流源，詳情可以咨詢

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VC-CC ePatch微流孔放大器—膜片鉗
VC-CC ePatch微流孔放大器—膜片鉗是一種多功能的高分辨率技術，可直接測量活細胞中的離子電流和/或膜電位。

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Swabian1ps時間分辨率計數器
Swabian1ps時間分辨率計數器：Time Tagger系列產品是具有du特數據處理架構的時間數字轉換器，尤其適用于時間相關的單光子計數、時間間隔計數、符合計數和數字協議分析。

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微型多通道電流放大器
微型多通道電流放大器，可同時測量4或16個電流通道。高信噪比并提高脂質雙層或納米孔實驗的數據吞吐量。

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非接觸式金屬膜厚測量儀
昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜的膜厚精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數據保存和導出。

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SiPM單光子探測器
SiPM單光子探測器硅光電倍增管（Silicon photomultiplier，簡稱SiPM)，是一種新型的光電探測器件，由工作在蓋革模式的雪崩二極管陣列組成，具有增益高、靈敏度高、偏置電壓低、對磁場不敏感、結構緊湊等特點。發明于二十世紀九十年代末，廣泛應用于高能物理及核醫學（PET）等領域，代表著未來極微弱光探測器的發展方向。

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Moku :Pro鎖相放大器
Moku :Pro鎖相放大器作為一款全功能信號控制及測量設備。同時具備九大功能：鎖相放大器，任意波形發生器、頻譜分析儀、數據記錄器、示波器、相位計、PID控制器、頻譜分析儀、波形發生器。

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Moku：Lab鎖相放大器
Moku：Lab鎖相放大器集成成示波器、頻譜分析儀、波形發生器、相位表、數據記錄器、鎖相放大器、ID控制器、頻率響應分析儀、數字濾波器、任意波形發生器、FIR濾波器?成器和激光鎖頻/穩頻十二個專業儀器于一臺設備。

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Moku:Pro相位計
Moku:Pro相位計(相對于參考時鐘)多達四個輸入信號，從1 kHz到300 MHz的精度優于6 μ弧度?；跀底謱崿F的鎖相環架構，Moku:Pro的相位計提供了的動態范圍、零死區和測量精度，超過了傳統鎖相放大器和頻率計數器的性能。

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