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高精度變溫霍爾效應測試儀（70-730K）
變溫霍爾效應測量儀是利用范德堡測量技術對半導體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數、電子遷移率等進行測量，用來表征和了解材料的物理性質。昊量光電的寬帶變溫霍爾效應測量儀主要可包括霍爾效應測量、變溫恒溫器、外加磁場三部分。
高精度變溫霍爾效應測試儀（70-730K）
變溫霍爾效應測量儀利用不同范德堡方法可以在不同溫度下對材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數、電子遷移率進行測量。該設備采用焦耳-湯姆遜平臺可以為樣品提供70-730K廣泛的變溫范圍，利用溫度控制器使展現的溫度穩定性和重復性，控溫精度可達到±0.1K，分辨率可達到0.01K，并對溫度變化有極快的響應速度。采用zui大可提供1.4T的電磁鐵施加外磁場，并可根據需要選配不同的電磁鐵。配備霍爾測量控制器，樣品電流范圍為10-12-0.01 A，樣品電壓可達到10-6-2.4V。采用靈活的模塊化設計，可以根據需要實驗和經費需要組建理想的系統。
變溫霍爾效應測量系統、霍爾效應測量儀，寬溫霍爾效應測量儀，寬帶變溫霍爾效應測量，高精度霍爾效應測量儀
昊量光電推出的變溫霍爾測量系統采用*的焦耳-湯姆遜平臺對樣品進行高低溫處理，無需液體冷凍劑處理。當真空腔至少保持在8 mTorr時，可以提供以下溫度范圍，①室溫,②70K-580K,③80K-580K,④70K-730K,⑤80K-730K,⑥室溫-730K,六種不同的溫度區間。配備AUK2000溫度控制器，可提供精確的溫度控制與測量并且擁有*的穩定性和重復性。該系統控溫精度可達到±0.1K，分辨率可達到±0.01K，對溫度的響應速度可達到1K/s。
霍爾效應測量儀采用范德堡方法對霍爾效應和電阻率進行測量，四個探針連接樣品，其中兩個輸入電流，其余兩個測量電壓。為了方便快速的切換樣品，與樣品表面接觸有彈簧探針和利用聚酰亞胺焊接兩種方法。①彈簧探針可以使待測樣品與探針直接接觸，無需粘貼或焊接，這有效的避免了樣品在高溫下測試時焊點融化的問題。而且在換樣品時更加快速方便。②聚酰亞胺焊接法。當樣品尺寸非常小，或者有特殊幾何要求的樣品時采用該方法，此外利用彈簧探針無法達到優質的歐姆連接時也采用這種辦法。霍爾傳感器在真空腔中處在樣品的下方，可以對樣品所處磁場的大小進行精確的測量。
寬帶變溫霍爾效應測量儀采用電磁體或永磁鐵提供外加磁場。并有三種不同的電磁體可供選擇。電磁體可通過軟件和霍爾控制器進行控制。①AU-M-25是一個緊湊的低成本的永磁體，該電磁體既不需要水冷也不需要風冷。該磁體可以提供5000高斯的單向外加磁場，霍爾恒溫器在兩片電磁鐵之間，如果需要反向磁場可以把恒溫器反向插入即可。②AU-MK-50是雙極電磁體，可提供變化的外加磁場，zui高可達5000高斯，并可提供反向磁場和0磁場。此外兩電磁鐵之間的間距可以調節。該電磁鐵采用風冷，但有水冷端口如果長時間使用可采用水冷。③AU-M-150電磁鐵可提供變化的外加磁場，zui高可高達14000高斯，可自由轉換磁場反向，對于高磁場和長時間的使用，應利用水冷使電磁體降溫。
寬帶變溫霍爾效應測量儀采用四點范德堡的方法測量，并通過霍爾測量控制器AUH5000來實現，AUH5000控制器是一個一體化的設備，既可以提供電流/電壓源、電流/電壓探測、磁場的測量和控制。該控制器可以通過USB或者RS-232與電腦連接通過軟件進行上述操作。通過軟件可以完成溫度控制、霍爾測量等。
u 主要特點
- 寬的操作溫度（70-730K）
- 的溫度穩定性和重復性（±0.1K）
- 高外加磁場（1.4T）
- 靈活配置的模塊設計，可以根據經費和實驗需求組建系統
- 低運行成本
- 無機械、聲學和電子噪聲
u 主要應用
半導體材料（比如說Si, Ge, GaAs, AlGaAs, CdTe, and HgCdTe）、電磁材料（磁電阻器件、GMR薄膜、稀磁半導體、超導體材料）的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數、電子遷移率測量
u 主要參數
SPECIFICATIONS FOR THE VARIABLE TEMPERATURE HALL SYSTEM | |
Operating Temperature Range: | Available between 70K and 730K (Joule-Thomson Thermal Stage) |
Dimensions of Vacuum Chamber: | 2.5 in wide x 6.0 in long x 0.75 in high (at sample end) |
Weight of the Vacuum Chamber: | 16 oz (454 grams) with thermal stage mounted |
Sample Mounting Surface Size: | 10 mm x 12 mm |
Standard Window Material: | Fused silica |
Maximum Sample Weight Allowed: | No more than 5 grams |
Working Distance: | 12 mm |
Dimension Configurations: | -Spring Loaded Probe spacing: 0.1 in, 0.2 in, 0.3 in (2.25 mm, 5 mm, 10.5 mm) -Kapton Harness space: not applicable |
Electrical Connections: | Triax connectors. |
Current Source Range: | 1 -12 to 0.01 Amps |
Voltage Measurement Range: | 1 -6 to 2.4 Volts |
Resistance (or Resistivity) Range: ** | Typical range is 10 -4 Ohm*cm to 10 13 Ohm*cm (dependent on sample thickness) |
Carrier Concentration Range: ** | Approximate range is 10 3 cm -3 to 10 19 cm -3(dependent on sample thickness ) |
Mobility Range: ** | Approximate range is 1 cm2 /volt*sec to 107 cm2/volt*sec |
Sample Thickness: | 0.001-2000 micrometer |
Temperature Accuracy: | < 0.5K at 80K; + /- 0.5K between 80K and 400K; < 1.5K from 400K to 730K |
Temperature Stability: | * /- 0.1K |
Temperature Resolution: | 0.01 K |
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