| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶 |
NT-MDT原子力顯微鏡
自1998年以來(lái)，NT-MDT已成功地將AFM與光學(xué)顯微鏡和光譜技術(shù)相集成。支持包括HybriD ModeTM在內(nèi)的30多種基本和高級(jí)AFM模式，可提供有關(guān)樣品表面物理性質(zhì)的廣泛信息。 AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成提供了有關(guān)樣品的更多信息。
*相同的樣品區(qū)域同時(shí)測(cè)量的AFM和拉曼圖可提供有關(guān)樣品物理性質(zhì)（AFM）和化學(xué)成分（Raman）的補(bǔ)充信息。
NTEGRA Spectra II借助增強(qiáng)拉曼散射（TERS），可以進(jìn)行納米級(jí)分辨率的光譜學(xué)/顯微術(shù)。特制的AFM探針（納米天線）可用于TERS，以增強(qiáng)和定位頂端附近納米級(jí)區(qū)域的光。
這種納米天線充當(dāng)光的“納米源”，從而提供了光學(xué)成像的可能性，其分辨率小于衍射極限（max?10 nm）。掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（SNOM）是獲得旋光性樣品的光學(xué)和光譜圖像的另一種方法，其分辨率受探針孔徑大小（?100 nm）限制。
NT-MDT 原子力顯微鏡系統(tǒng)光路圖
所有可能的激發(fā)/檢測(cè)和TERS的解決方案
應(yīng)用
CdS納米線通過(guò)導(dǎo)電聚合物納米線與金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結(jié)構(gòu)上。 由于AFM探針的形狀，激光可以直接定位在頂點(diǎn)上。
高分辨率AFM圖像可提供有關(guān)樣品形貌的信息。 從同一區(qū)域獲取的拉曼圖和發(fā)光圖顯示出納米線化學(xué)成分的差異。
光學(xué)圖片
原子力顯微鏡掃描圖 拉曼掃描圖 熒光掃描圖
拉曼譜
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